<sup id="33pk6"></sup>

<em id="33pk6"><ins id="33pk6"><small id="33pk6"></small></ins></em>

        <div id="33pk6"><ol id="33pk6"></ol></div>

          <sup id="33pk6"></sup>

            <div id="33pk6"><ol id="33pk6"></ol></div>

            技術交流
                         
             
             

            ___________________________________________________________ 上 下 左 右 看 匯 能 _________________________________________________________

            在光耦離線測試中,為何還有“設置測試參數”功能?

            修改測試參數:是指選擇修改測試參數功能后, 彈出如下圖所示的測試參數設置對話框(以參數測試為例),用戶可自行修改。修改后僅在本次測試中有效, 不修改器件庫和系統缺省設置。

            修改測試參數,是針對用戶對同一型號光耦的性能要求更高而設置的。 比如說光耦PC817,一般地國內生產的該型號,其光電轉換系數即CTR的最小值為50,這也是其手冊上的標準值, 但對于有些設備上它的要求比較高,所以在測試時,適當調高它的CTR值,就能挑選性能相對較高的光耦。

             

             

             

             

             

            版權所有©北京天惠維測電子有限公司

            咨詢電話:(公司座機)010-88570741 / 88571124

            業務咨詢:13121893732 (韓先生)

            技術咨詢:010-88570741

            傳真:010-88570741-809

            電子郵箱:thdza@163.com

            通訊地址:北京市海淀區魏公村街1號韋伯豪家園2-1-604

             

            京ICP備05079354 京公網安備110108006864 電路板在線維修測試儀 |集成電路測試儀 |電路板故障檢測儀 |芯片級電路板維修 |IGBT測試儀

             

             

             

            在线电影 亚洲 欧美